E8-PMA 贵金属分析仪是一款高性能专业测试贵金属的能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;E8-PMA采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据*高,稳定性强。 E8-PMA 贵金属分析仪产品特点: 外形特点 ● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运 ● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重 ● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰 ● 可视化样品窗 辐射防护 ● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线 ● 辐射标志警示 ● 迷宫式结构,防止射线泄漏 ● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线 ● 仪器经第三方检测,X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》 硬件技术 ● 超短光路设计:提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命 ● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率 ● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计 ● 电路系统符合EMC、FCC测试标准 ● 技术快拆样品盘,更换薄膜更方便 软件技术 ● 分析元素:Na~U之间元素 ● 分析时间:180秒 ● 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作 ● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原、一键清理功能保护用户数据安全 ● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度 ● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型 硬件配置: 探测器 ● 类型:X123探测器(采用*高性能电致冷半导体探测器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶体面积:25mm2 ● *分辨率:145eV ● 信号处理系统DP5 X射线管 ● 电 压 :0~50kV ● zui大电流 :2.0mA ● zui大功率 :50W ● 靶 材 :Mo ● Be窗厚度 :0.2mm ● 使用寿命 :大于2万小时 高压电源 ● 输出电压:0~50kV ● 灯丝电流:0~2mA ● zui大功率:50W ● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05% 摄像头 ● 微焦距 ● 500万像素 准直器、滤光片 ● 快拆卸准直器、滤光片系统 ● 多种材质准直器 ● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选 ● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换 其他配件 ●进口高性能开关电源 ●进口低噪声、大风量风扇 产品规格: 外形尺寸:380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高) 样品仓尺寸:360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高) 仪器重量:33.5kg 供电电源:AC220V/ 50Hz zui大功率:330W 工作温度:15-30℃ 相对湿度:≤85%,不结露 应用领域: 贵金属中金银铜含量检测、贵金属纯度检测、贵金属回收等领域 ●贵金属中有害元素检测 |